(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211155042.3 (22)申请日 2022.09.21 (71)申请人 广东奥普特 科技股份有限公司 地址 523000 广东省东莞 市长安镇锦厦社 区河南工业区锦升路8号 (72)发明人 黄心龙　 (74)专利代理 机构 北京集佳知识产权代理有限 公司 11227 专利代理师 李泽艳 (51)Int.Cl. G01N 21/88(2006.01) G01N 21/01(2006.01) (54)发明名称 一种基于光度立体的金属表面缺陷检测装 置及检测方法 (57)摘要 本发明公开了一种基于光度立体的金属表 面缺陷检测装置及检测方法， 包括采集组件和位 于所述采集组件下方的发光组件， 其特征在于， 所述发光组件包括同轴光源、 八通道球积分光 源、 八通道环形光源和环形光源； 所述同轴光源、 八通道球积分光源、 八通道环形光源和环形光源 沿着远离 所述采集组件的方向依次设置。 本发明 通过由同轴光源、 八通道球积分光源、 八通道环 形光源和环形光源组成发光组件， 可在配合采集 组件采集金属表面的图像后， 结合光度立体算法 实现对金属表 面的明显和轻微缺陷的检测， 减少 了漏检的可能， 提高了检测准确率， 具有广阔的 市场应用前 景。 权利要求书2页 说明书6页 附图5页 CN 115452838 A 2022.12.09 CN 115452838 A 1.一种基于光度立体的金属表面缺陷检测装置， 包括采集组件(10)和位于所述采集组 件(10)下方的发光组件(20)， 其特征在于， 所述发光组件(20)包括同轴光源(21)、 八通道球 积分光源(2 2)、 八通道 环形光源(23)和环形光源(24)； 所述同轴光源(21)、 八通道球积分光源(22)、 八通道环形光源(23)和环形光源(24)沿 着远离所述采集组件(10)的方向依次设置 。 2.根据权利要求1所述的基于光度立体的金属表面缺陷检测装置， 其特征在于， 所述同 轴光源(21)、 八通道球积分光源(2 2)、 八通道 环形光源(23)和环形光源(24)同轴设置 。 3.根据权利要求1所述的基于光度立体的金属表面缺陷检测装置， 其特征在于， 所述八 通道球积分光源(2 2)具有检测孔； 所述同轴光源(21)的出光 面位于所述检测孔的正上 方。 4.根据权利要求1所述的基于光度立体的金属表面缺陷检测装置， 其特征在于， 在所述 八通道球积分光源(22)中， 每两个通道作为一个球积分光源分区， 共四个球积分光源分区， 每个球积分光源分区可独立控制； 所述八通道环形光源(23)中， 每两个通道作为一个环形光源分区， 共四个环形光源分 区， 每个环形光源分区可独立控制。 5.根据权利要求1所述的基于光度立体的金属表面缺陷检测装置， 其特征在于， 同轴光 源(21)为白色同轴光源； 八通道球积分光源(2 2)为八通道白色球积分光源； 八通道环形光源(23)为八通道白色环形光源； 环形光源(24)为白色环形光源。 6.一种基于光度立体的金属表面缺陷检测方法， 其特征在于， 采用如权利要求1 ‑5中任 一项所述的基于光度立体的金属表面 缺陷检测装置执 行， 所述方法包括： 采用采集组件(10)配合发光组件(20)采集金属表面的图像； 将采集的图像用光度立体算法进行图像处 理， 以检测金属表面的缺陷。 7.根据权利要求6所述的基于光度立体的金属表面缺陷检测方法， 其特征在于， 所述采 用采集组件(10)配合发光组件(20)采集金属表面的图像的步骤 包括： 点亮发光组件(20)中的同轴光源(21)照射到金属表面， 并采用采集组件(10)采集金属 表面的明场图像； 点亮发光组件(20)中的环形光源(24)照射到金属表面， 并采用采集组件(10)采集金属 表面的暗场图像； 依次点亮发光组件(20)中的八通道球积分光源(22)的四个分区照射到金属表面， 并采 用采集组件(10)采集金属表 面的图像， 以及同时点亮发光组件(20)中的八通道球积分光源 (22)的四个分区照射到金属表面， 并采用采集组件(10)采集金属表面的图像； 依次点亮发光组件(20)中的八通道环形光源(23)的四个分区照射到金属表面， 并采用 采集组件(10)采集金属表 面的图像， 以及同时点亮发光组件(20)中的八通道环形光源(23) 的四个分区照射到金属表面， 并采用采集组件(10)采集金属表面的图像。 8.根据权利要求7所述的基于光度立体的金属表面缺陷检测方法， 其特征在于， 所述将 采集的图像用光度立体算法进行图像处 理， 以检测金属表面的缺陷的步骤 包括： 根据采集的明场图像和暗场图像， 检测金属表面的明显缺陷；权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115452838 A 2将点亮八通道球积分光源(22)和八通道环形光源(23)时采集的图像用光度立体算法 进行图像处 理， 以检测金属表面的细微 缺陷。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115452838 A 3