(19)国家知识产权局
(12)发明 专利申请
(10)申请公布号
(43)申请公布日
(21)申请 号 202211281579.4
(22)申请日 2022.10.19
(71)申请人 国网四川省电力公司电力科 学研究
院
地址 610000 四川省成 都市高新区锦晖西
二街16号
申请人 华东师范大学重庆研究院
国网电力科 学研究院武汉南瑞 有限
责任公司
(72)发明人 王杰 刘睿 吕天健 闫明
曾和平 张静 黄勤清 周文
蔡玉汝
(74)专利代理 机构 重庆强大凯创专利代理事务
所(普通合伙) 50217
专利代理师 李东旭(51)Int.Cl.
G01N 21/3504(2014.01)
G01N 21/01(2006.01)
(54)发明名称
一种基于单腔双梳光源的气体 检测方法
(57)摘要
本发明涉及气体检测技术领域, 公开了一种
基于单腔双梳光源的气体检测方法, 包括以下步
骤: S1: 将待测气体导入气体池内; S2: 由单腔双
梳光源发出存在重复频率差的第一光梳和第二
光梳, 所述第一光梳和第二光梳分别对向通过气
体池并重复若干次; S3: 将第一光梳和第二光梳
通过合束器合束拍频后分束为第一分束光和第
二分束光; S4: 将第一分束光和第二分束光分别
由第一光电探测器和第二光电探测器接收; S5:
将第一光电探测器和第二光电探测器的电信号
进行分析, 得到气体检测结果。 通过单腔双光梳
光源对气体进行检测, 解决了传统的双光梳光谱
技术需要对独立的双光梳进行锁腔的问题, 减小
了系统复杂性, 降低成本, 具 备高实用性。
权利要求书2页 说明书8页 附图2页
CN 115524302 A
2022.12.27
CN 115524302 A
1.一种基于单腔双梳光源的气体 检测方法, 其特 征在于, 包括以下步骤:
S1: 将待测气体导入气体池内;
S2: 由单腔双梳光源发出存在重复频率差的第一光梳和第二光梳, 所述第一光梳和第
二光梳分别对向通过气体池并重复若干次;
S3: 将第一 光梳和第二 光梳通过合束器合束拍频后分束为第一分束光和第二分束光;
S4: 将第一分束光和第二分束光分别由第一 光电探测器和第二 光电探测器接收;
S5: 将第一 光电探测器和第二 光电探测器的电信号进行分析, 得到气体 检测结果。
2.根据权利要求1所述的基于单腔双梳光源的气体检测方法, 其特征在于: 所述S4将第
一分束光和第二分束光分别由第一光电探测器和 第二光电探测器接收之后还包括: 采集时
域干涉信号并转 化为电信号。
3.根据权利要求2所述的基于单腔双梳光源的气体检测方法, 其特征在于: 所述第 一光
电探测器和第二 光电探测器分别与差分放大器电连接, 所述差分放大器与频谱仪电连接;
所述S5为:
S5‑1: 通过差分放大器将第一光电探测器和第 二光电探测器的电信号抑制共模噪声并
放大;
S5‑2: 频谱仪将放大后的电信号进行分析, 得到气体分子的吸 收光谱;
S5‑3: 根据吸 收光谱识别气体的种类和浓度。
4.根据权利要求3所述的基于单腔双梳光源的气体检测方法, 其特征在于: 所述单腔双
梳光源包括泵浦 光源、 谐振腔, 所述谐振腔包括高反镜、 输出镜、 第一反射镜、 第二反射镜和
增益介质; 所述高反镜、 增益介质和输出镜依 次设于同一直线上, 所述第一反射镜、 气体池
和第二反射镜依次设于同一 直线上, 所述泵浦光源朝向高反镜 。
所述S2包括:
S2‑1: 打开泵浦光源, 使光源通过高反镜入射到增益介质形成方向相反的第一光梳和
第二光梳; 所述第一光梳经输出镜和第一反射镜的反射通过气体池后, 经第二反射镜和高
反镜的反射入射到增益介质; 所述第二光梳经高反镜和第二反射镜的反射与第一光梳对向
通过气体池后, 经第一反射镜和输出镜的反射入射到增益介质; 所述第一光梳和第二光梳
分别入射到增益介质后再次经 过反射后通过气体池并重复若干次;
S2‑2: 直到光梳在腔内完成振荡, 第一光梳通过气体池后经第二反射镜和高反镜的反
射, 通过输出镜射出; 同时第二 光梳通过气体池后经第一反射镜的反射, 通过输出镜射出。
5.根据权利要求4所述的基于单腔双梳光源的气体检测方法, 其特征在于: 所述谐振腔
的腔外光路包括第三反射镜, 所述 合束器为 合束片;
所述S3包括:
S3‑1: 在沿输出镜的直线上设置合束片, 使第一光梳通过输出镜后射向合束片; 在第二
光梳通过输出镜射出的光路上设置第三反射镜, 使第二光梳通过输出镜后通过第三反射镜
的反射后射向合束片; 所述 合束片与两束入射 光呈45度角放置;
S3‑2: 第一光梳和第二 光梳通过合束片合束拍频后分束为第一分束光和第二分束光。
6.根据权利要求5所述的基于单腔双梳光源的气体检测方法, 其特征在于: 所述第 一分
束光包括第一光梳的透射光和 第二光梳的反射光, 所述第二分束光包括第一光梳的反射光
和第二光梳的透射 光。权 利 要 求 书 1/2 页
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27.根据权利要求6所述的基于单腔双梳光源的气体检测方法, 其特征在于: 所述第 一光
梳和第二 光梳的中心波长均为15 50nm, 所述增益介质为 掺铒玻璃。
8.根据权利要求3所述的基于单腔双梳光源的气体检测方法, 其特征在于: 所述谐振腔
包括波分 复用器、 增益介质、 偏振控制器、 半导体可饱和吸收镜、 第一光纤耦合器、 第一光纤
准直器和 第二光纤准直器, 所述合束器为第二光纤耦合器; 所述第一光纤准直器、 波分 复用
器、 增益介质、 偏振控制器、 半导体可饱和吸收镜、 第一光纤耦合器和第二光纤准直器依次
光纤连接, 所述泵浦光源朝向波分复用器, 所述气体池设于第一光纤准直器和第二光纤准
直器之间, 所述第一光纤耦合器和第二光纤耦合器光纤连接, 所述第二光纤耦合器分别与
第一光电探测器和第二 光电探测器光纤连接;
所述S2包括:
S2‑1: 打开泵浦光源, 使光源通过波分复用器进入谐振腔并产生第一光梳和第二光梳,
第一光梳和第二光梳通过偏振控制 器、 半导体可饱和吸收镜后, 分别通过第一光纤准直器
和第二光纤准直器射出并重复通过气体池;
S2‑2: 第一光梳和第 二光梳通过气体池后经第 一光纤准直器和第 二光纤准直器进入光
纤, 并通过第一 光纤耦合器输出;
所述S3包括:
S3‑1: 第一光梳和第二 光梳通过第一 光纤耦合器输出至第二 光纤耦合器;
S3‑2: 第一光梳和第 二光梳通过第二光纤耦合器合束拍频后分束为第 一分束光和第二
分束光。
9.根据权利要求8所述的基于单腔双梳光源的气体检测方法, 其特征在于: 所述增益介
质为掺铒光纤。
10.根据权利要求9所述的基于单腔双梳光源的气体检测方法, 其特征在于: 所述泵浦
光源的中心波长为980nm, 所述波分复用器为980 /1550nm的波分复用器。权 利 要 求 书 2/2 页
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专利 一种基于单腔双梳光源的气体检测方法
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