(19)中华 人民共和国 国家知识产权局
(12)发明 专利申请
(10)申请公布号
(43)申请公布日
(21)申请 号 202111655530.6
(22)申请日 2021.12.3 0
(71)申请人 武汉华威科智能技 术有限公司
地址 430070 湖北省武汉市东湖新 技术开
发区高新大道999 号海外人才 大楼B座
3楼301室
(72)发明人 周玉宇 柯楠 郭国涛
(74)专利代理 机构 武汉东喻专利代理事务所
(普通合伙) 42224
代理人 雷霄
(51)Int.Cl.
G06T 7/00(2017.01)
G06K 7/14(2006.01)
G06T 5/00(2006.01)
(54)发明名称
一种电芯赋码检测方法及装置
(57)摘要
本发明公开了一种电芯赋码检测方法及装
置。 该方法包括步骤: 采集电芯处于同一位置且
不同照明环 境下的多张原始图像; 对每张原始图
像分别进行亮度校正; 提取每张原始图像的第一
过曝区域、 欠曝区域以及非第一过曝欠曝区域;
依次对每张原始图像进行补偿, 直至相邻的两张
补偿图像的像素亮度差异小于预设值, 则停止补
偿, 将该相邻的后一张补偿图像作为输出图像,
对输出图像进行赋码检测。 本发 明通过校正过曝
或者欠曝区域的图像, 再对 校正后的图像进行赋
码检测, 检测效果 好。
权利要求书2页 说明书7页 附图2页
CN 114359210 A
2022.04.15
CN 114359210 A
1.一种电芯赋码检测方法, 其特 征在于, 包括 步骤:
采集电芯处于同一 位置且不同照明环境下的多张原 始图像;
对每张原 始图像分别进行亮度校正;
提取每张原 始图像的第一过曝区域、 欠曝区域以及非第一过曝欠曝区域;
依次对每张原始图像进行补偿, 直至相邻的两张补偿图像的像素亮度差异小于预设
值, 则停止补偿, 将该相邻的后一张补偿图像作为输出图像, 对输出图像进行 赋码检测;
其中, 对每张原始图像进行补偿包括步骤: 将第一张原始图像的亮度校正值作为第一
张原始图像的补偿值; 从第二张原始图像开始, 用相邻的前一张原始图像的非第一过曝欠
曝区域的补偿值作为相邻的后一张原始图像对应区域的补偿值, 相邻的后一张原始图像其
他区域的补偿值 为该区域的亮度校正 值。
2.如权利要求1所述的一种电芯赋码检测方法, 其特征在于, 所述对每张图像分别进行
亮度校正包括 步骤:
提取每张原 始图像的第二过曝区域;
确定每张原 始图像的第二过曝区域的中心位置;
根据每张原始图像中像素点到该张原始图像的第二过曝区域的中心位置的距离进行
亮度校正。
3.如权利要求2所述的一种电芯赋码检测方法, 其特征在于, 所述提取每张原始图像的
第一过曝区域、 欠曝区域以及非第一过曝欠曝区域的计算公式为:
其中,
是第n‑1张原始图像像素(i,j)的亮度值, Dn‑1(i,j)=1表示第n ‑1张原始
图像像素(i,j)为非第一过曝欠曝区域, Dn‑1(i,j)=0表 示第n‑1张原始图像像素(i,j)为第
一过曝区域或欠曝区域, τL、 τH均为预设阈值。
4.如权利要求3所述的一种电芯赋码检测方法, 其特征在于, 所述提取每张原始图像的
第二过曝区域的计算公式为:
其中,
是第n张原始图像像素(i,j)的亮度值, τc为预设阈值, Cn(i,j)=1表示第n
张原始图像像素(i,j)为第二过曝欠曝区域, Cn(i,j)=0表示第n张图像像素(i,j)为非第
二过曝欠曝区域。
5.如权利要求4所述的一种电芯赋码检测方法, 其特征在于, 所述亮度校正的计算公式
为:
其中,
为第n张原始图像像素(i,j)的亮度校正值,
是亮度校正函数, α权 利 要 求 书 1/2 页
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2是根据环境条件预先设定的校正因子, rn(i,j)是第n张原始图像像素(i,j)点到第n张原始
图像的第二过曝区域的中心位置(Xcn,Ycn)的距离。
6.如权利要求5所述的一种电芯赋码检测方法, 其特征在于, 所述对每张原始图像进行
补偿的计算公式为:
其中,
为第n张原始图像像素(i,j)的补偿值,
为第n‑1张原始图像像素
(i,j)的补偿值。
7.如权利要求6所述的一种电芯赋码检测方法, 其特征在于, 所述相邻的两张补偿图像
的像素亮度差异小于预设值包括 步骤:
若满足
β 为预设值, ∑表示对图像所有像素对应值求和, 则判
断相邻的两张补偿图像的像素亮度差异小于预设值。
8.如权利要求1所述的一种电芯赋码检测方法, 其特征在于, 通过交替打开和关闭不同
位置的照明灯来实现不同照明环境。
9.如权利要求2所述的一种电芯赋码检测方法, 其特 征在于, 还 包括步骤:
确定输出图像对应的原始图像的中心位置, 获取输出图像对应的原始图像的第 二过曝
区域的中心位置, 根据两个中心位置的差值调整电芯的位置 。
10.一种电芯赋码检测装置, 其特征在于, 包括处理器, 所述处理器用于实现如权利要
求1至9任一项所述的电芯赋码检测方法。权 利 要 求 书 2/2 页
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专利 一种电芯赋码检测方法及装置
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