(19)中华 人民共和国 国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202111538840.X (22)申请日 2021.12.15 (71)申请人 中国建设银行股份有限公司 地址 100033 北京市西城区金融大街25号 (72)发明人 方幸　李桂林　方红涛　 (74)专利代理 机构 中科专利商标代理有限责任 公司 11021 代理人 熊文鑫 (51)Int.Cl. G06T 5/00(2006.01) G06T 7/11(2017.01) G06T 7/62(2017.01) G06V 10/74(2022.01) G06N 20/00(2019.01) (54)发明名称 印鉴识别的方法、 装置、 设备、 介质和产品 (57)摘要 本公开提供了一种印鉴识别的方法、 装置、 设备、 介质和产品。 所述印鉴识别的方法， 包括： 获取印鉴影像， 所述印鉴影像包括参考印鉴影像 和目标印鉴影像； 对所述参考印鉴影像和所述目 标印鉴影像进行预处理， 得到规范化的目标印鉴 影像和规范化的参考印鉴影像， 所述规范化包括 通过平面坐标系规范所述印鉴影像； 对规范化的 目标印鉴影像和规范化的参考印鉴影像进行切 片处理， 得到一一对应的目标印鉴切片集和参考 印鉴切片集； 对 所述目标印鉴切片集和所述参考 印鉴切片集进行第一判定操作， 得到第一判定结 果； 对所述目标印鉴切片集和所述参考印鉴切片 集进行第二判定操作， 得到第二判定结果； 以及 根据所述第一判定结果和所述第二判定结果共 同决策识别结果。 权利要求书3页 说明书10页 附图5页 CN 114240780 A 2022.03.25 CN 114240780 A 1.一种印鉴识别的方法， 其特 征在于， 所述方法包括： 获取印鉴影 像， 所述印鉴影 像包括参考印鉴影 像和目标印鉴影 像； 对所述参考印鉴影像和所述目标印鉴影像进行预处理， 得到规范化的目标印鉴影像和 规范化的参 考印鉴影 像， 所述规范化包括 通过平面 坐标系规范 所述印鉴影 像； 对规范化的目标印鉴影像和规范化的参考 印鉴影像进行切片处理， 得到一一对应的目 标印鉴切片集和参 考印鉴切片集； 对所述目标印鉴切片集和所述参考印鉴切片集进行第一判定操作， 得到第一判定结 果； 对所述目标印鉴切片集和所述参考印鉴切片集进行第二判定操作， 得到第二判定结 果； 以及 根据所述第一判定结果和所述第二判定结果共同决策识别结果。 2.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述预处理包括： 第一预处理和第二预处 理， 其中， 所述第一预处 理包括： 对所述参考印鉴影像和所述目标印鉴影像进行去噪处理， 并保留所述参考印鉴影像和 所述目标印鉴影 像的要素部分， 得到第一 参考印鉴影 像和第一目标印鉴影 像； 其中， 所述第二预处 理包括： 基于所述第一 参考印鉴影 像建立平面 坐标系， 得到规范化的参 考印鉴影 像； 将所述第一目标印鉴影 像映射至所述平面 坐标系中； 修正所述第一目标印鉴影像， 得到规范化的目标印鉴影像， 使规范化的目标印鉴影像 和规范化的参考印鉴影像的重合率达到预设重合阈值， 其中， 所述修正所述第一 目标印鉴 影像包括： 对所述第一目标印鉴影 像的大小、 位置以及角度进行修 正。 3.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述对规范化的目标印鉴影像和规范化的 参考印鉴影 像进行切片处 理， 得到一 一对应的目标印鉴切片和参 考印鉴切片， 包括： 基于图像分割技术， 对规范化的目标印鉴影像和规范化的参考 印鉴影像进行相同的分 割， 分别得到第一目标印鉴切片集和 第一参考印鉴切片集， 其中， 所述第一目标印鉴切片集 和所述第一 参考印鉴切片集包括多个要素； 基于预设要素阈值， 筛选所述第一目标印鉴切片集和所述第一参考印鉴切片集， 得到 所述目标印鉴切片集和所述 参考印鉴切片集。 4.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述对所述目标印鉴切片集和所述参考 印 鉴切片集进行第一判定操作， 得到第一判定结果， 包括： 基于每个切片的多个要素点， 对所述目标印鉴切片集和所述参考 印鉴切片集进行位置 提取， 得到目标要素位置集和参考要素位置集， 对所述 目标印鉴切片集和所述参考印鉴切 片集进行角度提取， 得到目标要素角度集和参 考要素角度集； 基于所述目标要素位置集和所述参考要素位置集计算位置误差， 得到坐标误差集， 基 于所述目标要素角度集和所述 参考要素角度集计算角度误差， 得到角度误差集； 以及 根据所述 位置误差集和所述角度误差集进行判定， 得到所述第一判定结果。 5.根据权利要求4所述的方法， 其特征在于， 所述基于每个切片的多个要素点， 对所述 目标印鉴切片集和所述参考印鉴切片集进 行位置提取， 得到目标要素位置集和参考要 素位权　利　要　求　书 1/3 页 2 CN 114240780 A 2置集， 对所述 目标印鉴切片集和所述参考印鉴切片集进行角度提取， 得到目标要素角度集 和参考要素角度集， 包括： 对于每 个切片， 选择至少三个要素点以反映弧度信息 。 6.根据权利要求4或5所述的方法， 其特征在于， 所述对所述目标印鉴切片集和所述参 考印鉴切片集进行位置提取， 得到目标要 素位置集和参考要 素位置集， 其中， 对于每一个切 片， 所述方法包括： 提取N个要素点； 基于N个要素点 提取相应的坐标信息 。 7.根据权利要求4或5所述的方法.其特征在于， 所述所述目标印鉴切片集和所述参考 印鉴切片集进行角度提取， 得到目标要素角度集和参考要素角度集， 其中， 对于每一个切 片， 所述方法包括： 提取N个要素点； 基于N个要素点作N条 连接原点的线段， 得到N ‑1个夹角； 计算每个夹角的角度。 8.根据权利要求4所述的方法， 其特征在于， 所述根据所述位置误差集和所述角度误差 集进行判定， 得到所述第一判定结果， 包括： 获取预设的第一判定模型， 所述第一判定模型包括机器学习模型； 以所述位置误差集和所述角度误差集作为入模变量， 进行误差决策， 得到所述第一判 定结果。 9.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述对所述目标印鉴切片集和所述参考 印 鉴切片集进行第二判定操作， 得到第二判定结果， 包括： 获取预设的第二判定模型， 所述第二判定模型包括机器学习模型； 以所述目标印鉴切片集和所述参考 印鉴切片集提取出的形状特征作为入模变量， 进行 相似决策， 得到所述第二判定结果； 其中， 所述形状特征至少包括： 面积、 长宽以及切片内要素与其背景的比例、 亮度、 饱和 度。 10.一种印鉴识别的装置， 其特征在于， 所述装置包括： 获取模块、 预处理模块、 切片模 块、 第一判定模块、 第二判定模块和最终判定模块， 其中， 获取模块， 用于获取印鉴影 像， 所述印鉴影 像包括参考印鉴影 像和目标印鉴影 像； 预处理模块， 用于对所述参考印鉴影像和所述目标印鉴影像进行预处理， 得到规范化 的目标印鉴影像和规范化的参考印鉴影像， 所述规范化包括通过平面坐标系规范所述印鉴 影像； 切片模块， 用于对规范化的目标印鉴影像和规范化的参考印鉴影像进行切片处理， 得 到一一对应的目标印鉴切片集和参 考印鉴切片集； 第一判定模块， 用于对所述目标印鉴切片集和所述参考印鉴切片集进行第一判定操 作， 得到第一判定结果； 第二判定模块， 用于对所述目标印鉴切片集和所述参考印鉴切片集进行第二判定操 作， 得到第二判定结果； 以及 最终判定模块， 用于根据所述第一判定结果和所述第二判定结果共同决策识别结果。 11.一种电子设备， 包括：权　利　要　求　书 2/3 页 3 CN 114240780 A 3