ICS33.100 CCSL06 中华人民共和国国家标准 GB/T44599—2024 天线测量场地检测方法 Testingmethodforantennameasurementfields 2024-09-29发布 2025-01-01实施 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会发布目 次 前言 Ⅲ ………………………………………………………………………………………………………… 1 范围 1 ……………………………………………………………………………………………………… 2 规范性引用文件 1 ………………………………………………………………………………………… 3 术语和定义 1 ……………………………………………………………………………………………… 4 不同类型天线测量场地检测要求 2 ……………………………………………………………………… 4.1 远场测量场地 2 ……………………………………………………………………………………… 4.2 近场测量场地 2 ……………………………………………………………………………………… 4.3 紧缩场测量场地 3 …………………………………………………………………………………… 5 不同类型天线测量场地检测方法 3 ……………………………………………………………………… 5.1 远场测量场地 3 ……………………………………………………………………………………… 5.2 近场测量场地 11 ……………………………………………………………………………………… 5.3 紧缩场测量场地 15 …………………………………………………………………………………… 附录A(资料性) 自由空间电压驻波比法 17 ……………………………………………………………… 附录B(资料性) 外推法 20 ………………………………………………………………………………… 参考文献 23 …………………………………………………………………………………………………… ⅠGB/T44599—2024 前 言 本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。 本文件由全国通信标准化技术委员会(SAC/TC485)归口。 本文件起草单位:中国信息通信研究院、中国移动通信集团有限公司、中国通信标准化协会、中国电 信集团有限公司、中国联合网络通信集团有限公司、京信通信技术(广州)有限公司、华为技术有限公司、 中国信息通信科技集团有限公司、江苏亨鑫科技有限公司、佛山市粤海信通讯有限公司。 本文件主要起草人:吴翔、赵杰、韩冬、孙善球、何俊涛、石萌、张宇、张涛、李艳芬、华彦平、郑洪振。 ⅢGB/T44599—2024 天线测量场地检测方法 1 范围 本文件规定了不同类型天线测量场地的检测要求,描述了天线测量场地的检测方法。 本文件适用于工作频段为400MHz~6000MHz的天线测量场地的检测。其他频段的天线测量 场地的检测可参照使用。 2 规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文 件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于 本文件。 GB/T12190 电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法 YD/T2866 移动通信系统室内分布无源天线 YD/T2867 移动通信系统多频段基站无源天线 YD/T2868 移动通信系统无源天线测量方法 3 术语和定义 YD/T2866、YD/T2867、YD/T2868界定的以及下列术语和定义适用于本文件。 3.1 微波暗室 microwaveanechoicchamber 内面安装电波屏蔽体和吸波材料,形成在一定频率范围内使微波反射、杂散、干扰信号下降到可接 受程度的准自由空间的天线测试环境且经过专门设计的封闭室。 3.2 静区 quietzone 在微波暗室内,电磁波的反射控制到设计水平的电波静空区域。 3.3 反射电平 reflectivitylevel 微波暗室静区内等效反射信号与直射信号之比。 注:通常用分贝(dB)表示。 3.4 口径场幅度起伏 amplituderippleintestingaperture 电波静区内,垂直于直射波方向的测试口径面上,由于暗室场地反射引起的接收电平的纹波起伏。 注:分为水平极化电平和垂直极化电平两种情况。 3.5 口径场幅度锥削度 amplitudetaperintestingaperture 电波静区内,垂直于直射波方向的测试口径面上,由于发射喇叭实际方向图离开瞄准轴角度后的电 平逐渐降低作用在有限的测试收发距离并引起接收电平的逐渐降低程度。 1GB/T44599—2024 注:分为水平极化电平和垂直极化电平两种情况。 3.6 口径场水平/垂直电平差 amplitudedifferencebetweenhorizontalpolarizationandverticalpolari- zationintestingaperture 在直射波来波方向上,收发方式按水平极化时和垂直极化时的接收电平的差别。 3.7 方向图比较法 antennapatterncomparisontechnique 通过在暗室静区的不同位置测量得到的方向图差异反映反射电平值的方法。 3.8 紧缩场幅相测试法 amplitude&phasetesttechniqueofcompactrange 通过测量静区口径面上的幅度的场强及相位来评价紧缩场性能的方法。 注:探头在微波暗室静区平面内移动获取静区口径面上的幅度的场强及相位信息,通过数据处理分析获得静区内 的幅相信息,其数值反映静区口径面上的准平面波的性能优劣。 4 不同类型天线测量场地检测要求 4.1 远场测量场地 4.1.1 暗室屏蔽性能检测 应检测远场测量场地的暗室屏蔽性能。测量方法应符合GB/T12190的规定。 4.1.2 静区反射电平性能检测 应检测远场测量场地的静区反射电平性能。宜采用自由空间电压驻波比法进行测量,测量方法见 5.1.1。 4.1.3 口径场性能检测 应检测远场测量场地的口径场性能,包括口径场幅度起伏、口径场幅度锥削度和口径场水平/垂直 电平差。宜采用自由空间电压驻波比法进行测量,测量方法见5.1.2。 4.1.4 静区口径场交叉极化性能检测 应检测远场测量场地的静区口径场的交叉极化性能,测量方法见5.1.3。 4.1.5 天线增益检测 应检测远场测量场地的天线增益。可采用外推法、三天线法、增益比较法进行测量,测量方法 见5.1.4。 4.2 近场测量场地 4.2.1 暗室屏蔽性能检测 应检测近场测量场地的暗室屏蔽性能。测量方法应符合GB/T12190的规定。 4.2.2 静区反射电平性能检测 应检测近场测量场地的静区反射电平性能。宜采用方向图比较法进行测量,测量方法见5.1.2。 2GB/T44599—2024